Stem Kariyer İlgi Ölçeği

Özet

STEM Kariyer İlgi Ölçeği, bireylerin bilim, teknoloji, mühendislik ve matematik alanlarına yönelik kariyer ilgilerini ölçmek amacıyla geliştirilmiş psikometrik bir araçtır. Bu çalışma, ölçeğin Türk kültürüne ve diline uygunluğunu sağlamak üzere gerçekleştirilen bir uyarlama çalışmasıdır. Söz konusu uyarlama, Türkiye’deki eğitim ortamlarında ve kariyer rehberliği süreçlerinde STEM alanlarına olan yönelimi belirlemek ve bu alanlara ilgi duyan öğrencileri tespit etmek için kritik bir öneme sahiptir.

Ölçeğin Türkçeye uyarlanması süreci, dilsel eşdeğerlik, kültürel geçerlik ve psikometrik özelliklerin incelenmesini içermektedir. Bu uyarlama çalışması, Dönmez ve İdin tarafından 2019 yılında 28. Uluslararası Eğitim Bilimleri Kongresi’nde bir bildiri olarak sunulmuştur. Çalışmanın temel amacı, orijinal ölçeğin yapısal bütünlüğünü koruyarak Türkiye’deki örneklemler üzerinde güvenilir ve geçerli sonuçlar üretebilmesini sağlamaktır.

Anahtar Kelimeler

Stem Kariyer İlgi Ölçeği, STEM Eğitimi, Kariyer İlgisi, Ölçek Uyarlaması, Psikometri, Bilim, Teknoloji, Mühendislik, Matematik.

Yazarlar

İsmail Dönmez, Şule İdin

Amaç

Stem Kariyer İlgi Ölçeği’nin temel amacı, bireylerin STEM alanlarına yönelik spesifik kariyer ilgisi düzeylerini ve bu ilgilerin alt boyutlarını güvenilir ve geçerli bir şekilde ölçmektir. Bu ölçek, öğrencilerin gelecekteki meslek seçimleri hakkında bilgi sağlamak ve eğitimcilerin, rehberlik uzmanlarının ve politika yapıcıların STEM alanlarına teşvik edici programlar geliştirmelerine yardımcı olmak için tasarlanmıştır.

Uyarlama çalışmasının özel amacı ise, uluslararası alanda kabul görmüş olan bu ölçeği, Türk kültürünün sosyokültürel ve dilsel özelliklerine adapte ederek, Türkiye’deki gençlerin kariyer eğilimlerini bilimsel yöntemlerle incelemeye olanak tanımaktır. Bu sayede, Türkiye’de STEM alanlarına yönelik ilgi ve motivasyon araştırmalarına sağlam bir temel oluşturulması hedeflenmiştir.

Yapı

Stem Kariyer İlgi Ölçeği, genellikle kariyer ilgisini çok boyutlu bir yapı olarak ele alır ve STEM‘in dört ana disiplinine karşılık gelen alt boyutları ölçmeyi amaçlar. Orijinal ölçeğin yapısı, bireyin bu alanlardaki faaliyetlere katılma isteğini, bu alanlarda kariyer yapma arzusunu ve bu mesleklere yönelik tutumlarını değerlendirir.

Uyarlama çalışmasında, ölçeğin yapısal geçerliğinin incelenmesi, orijinal ölçekteki faktör yapısının Türkçe formda da korunup korunmadığının belirlenmesini gerektirir. Bu yapı, genellikle Bilim İlgisi, Teknoloji İlgisi, Mühendislik İlgisi ve Matematik İlgisi gibi spesifik boyutlardan oluşur. Ölçek, bu dört alandaki mesleklere yönelik algılanan çekiciliği ve kişisel uygunluğu değerlendiren maddeler içerir.

Geçerlik

Kaynak içerikte Stem Kariyer İlgi Ölçeği’nin geçerlik bilgileri açıkça belirtilmemiştir. Ancak bir ölçek uyarlama çalışmasında, geçerliğin sağlanması temel bir adımdır. Genellikle aşağıdaki geçerlik türleri incelenir:

• Kapsam Geçerliği: Maddelerin, ölçülmek istenen STEM kariyer ilgisi yapısını yeterince temsil edip etmediği uzman görüşleri ile incelenir.
• Yapı Geçerliği: Ölçeğin teorik olarak varsayılan yapıyı (faktörleri) ölçüp ölçmediği Faktör Analizi (AFA ve DFA) yöntemleri kullanılarak test edilir.
• Ölçüt Bağımlı Geçerlik: Ölçekten alınan puanların, aynı yapıyı ölçtüğü bilinen diğer geçerli ölçeklerden alınan puanlarla (yakınsak geçerlik) veya ilgili ancak farklı yapıları ölçen ölçeklerden alınan puanlarla (ıraksak geçerlik) ilişkisi incelenir.

Güvenirlik

Kaynak içerikte Stem Kariyer İlgi Ölçeği’nin güvenirlik değerlerine ilişkin bilgi sunulmamıştır. Bir psikometrik aracın güvenilirliği, aynı koşullar altında uygulandığında tutarlı sonuçlar verme derecesini ifade eder. Uyarlama çalışmalarında güvenirlik genellikle iç tutarlılık katsayıları ile rapor edilir.

Beklenen güvenirlik analizleri şunları içerir:

• İç Tutarlılık Katsayısı (Cronbach Alfa): Ölçek maddelerinin birbiriyle ne kadar tutarlı olduğunu gösteren temel bir güvenirlik ölçüsüdür. Hem genel ölçek hem de alt boyutlar için bu katsayıların hesaplanması beklenir.
• Test-Tekrar Test Güvenirliği: Ölçeğin farklı zamanlarda uygulandığında tutarlı sonuçlar verip vermediğini belirlemek amacıyla belirli bir zaman aralığıyla aynı örnekleme tekrar uygulanması ve korelasyonun incelenmesi.

Faktör Analizi

Faktör Analizi, özellikle ölçek uyarlama çalışmalarında yapı geçerliğini test etmek için kullanılan merkezi bir istatistiksel yöntemdir. Dönmez ve İdin’in uyarlama çalışmasında, orijinal ölçeğin faktör yapısının Türkçe örneklemde de doğrulanması hedeflenmiştir.

Genellikle izlenen metodoloji, ilk olarak Açımlayıcı Faktör Analizi (AFA) ile faktör sayısının ve madde yüklerinin incelenmesi, ardından Doğrulayıcı Faktör Analizi (DFA) ile elde edilen modelin veriyle uyumunun (model fit) değerlendirilmesidir. STEM Kariyer İlgi Ölçeği’nin dört faktörlü (Bilim, Teknoloji, Mühendislik, Matematik) yapıyı koruyup korumadığı, DFA sonuçları (RMSEA, CFI, TLI gibi uyum indeksleri) ile kanıtlanmalıdır.

Ölçme Aracı

Test Türü: Uyarlama Çalışması (Orijinal ölçeğin Türkçeye adaptasyonu)

Format: Kaynak içerikte belirtilmemekle birlikte, bu tür ilgi ölçekleri genellikle 5’li veya 6’lı Likert Tipi Derecelendirme formatında (Örn: “Kesinlikle Katılıyorum”dan “Kesinlikle Katılmıyorum”a) sunulur.

Mevcut Diller: Türkçe (Uyarlanan Form)

Popülasyon Grubu: Öğrenciler (Genellikle ortaokul veya lise düzeyindeki bireylerin kariyer ilgilerini ölçmek için kullanılır.)

Yaş Grubu: Kaynakta belirtilmemiştir, ancak kariyer ilgisinin belirginleştiği 12-18 yaş aralığı (ortaokul ve lise öğrencileri) varsayılabilir.

Popülasyon Detayları: Uyarlama çalışması için örneklemin büyüklüğü, demografik özellikleri (cinsiyet, okul türü, sınıf düzeyi) ve coğrafi dağılımı ilgili bilimsel bildiride detaylandırılmıştır.

Test Metodolojisi: Çeviri, geri çeviri ve uzman görüşleri ile dilsel eşdeğerlik sağlanmış, ardından yapı geçerliği ve güvenirlik analizleri gerçekleştirilmiştir.

Anahtar Kelimeler

Geçerlik, Güvenirlik, Faktör Analizi, Kariyer Rehberliği, Ölçek Geliştirme, Psikometrik Özellikler.

Yazarlar

Yazar ORCID Tanımlayıcısı: Kaynak içerikte belirtilmemiştir.

Kurumsal E-posta Adresleri: Kaynak içerikte belirtilmemiştir.

Yazışma Adresi: [email protected]

İzinler, Ücret ve Test Yılı

İzinler ve Kullanım Ücreti: Ölçeğin kullanımı için izin ve ücret bilgileri sorumlu yazar İsmail Dönmez ile iletişime geçilerek öğrenilmelidir. Bilimsel ve akademik amaçlı kullanımlar genellikle yazardan izin alınması koşuluyla ücretsizdir.

Test Yılı (Uyarlama): Ölçeğin Türkçeye uyarlama çalışması 2019 yılında tamamlanmış ve sunulmuştur.

Orijinal çalışma özetinin yer aldığı kongre linki: ices-uebk.org

Kaynaklar

Dönmez, İ., ve İdin, Ş. (2019). Stem Kariyer İlgi Ölçeğinin Türkçe’ye uyarlanması. 28. Uluslararası Eğitim Bilimleri Kongresi’ nde sunulan bildiri. 25-28 Nisan, Ankara, Türkiye.

Stem Kariyer İlgi Ölçeği Maddeleri

ÖNEMLİ: Ölçeğin orijinal maddeleri kaynak içerikte yer almamaktadır. Maddeler, uyarlama çalışmasının tam metninde veya sorumlu yazar ile iletişime geçilerek elde edilebilir.

Bu bölüm, ölçeğin akademik bildiride sunulan maddelerini içermelidir, ancak kaynak içerik sadece referans bilgisini sağladığı için maddeler buraya eklenememiştir. Maddelerin formatı, genellikle bir STEM alanındaki aktiviteye veya mesleğe yönelik ilgi düzeyini ölçen ifadelerden oluşur.

Örnek olası madde yapısı:

• Bilimsel deneyler yapmaktan hoşlanırım.
• Karmaşık matematik problemlerini çözmek ilgimi çekiyor.
• Yeni teknolojilerin nasıl çalıştığını öğrenmek isterim.
• İnsanlar için faydalı olabilecek tasarımlar yapmayı düşünürüm.