STEM’e Yönelik Tutum Ölçeği

Özet

STEM’e Yönelik Tutum Ölçeği, bireylerin bilim, teknoloji, mühendislik ve matematik alanlarına karşı sahip oldukları tutumları ölçmek amacıyla geliştirilmiş bir psikometrik araçtır. Bu ölçek, H. Özcan ve E. Koca (2018) tarafından Türkçeye uyarlama çalışmasıyla kazandırılmıştır. Uyarlama çalışması, ölçeğin Türkçe konuşan popülasyonlar için geçerli ve güvenilir bir ölçüm aracı olduğunu kanıtlamak üzere kapsamlı bir geçerlik ve güvenilirlik analizi içermektedir. Elde edilen istatistiksel sonuçlar, ölçeğin orijinal yapısını koruduğunu ve mükemmel uyum indekslerine sahip olduğunu göstermiştir.

Anahtar Kelimeler

STEM, Tutum Ölçeği, Psikometri, Uyarlama, Doğrulayıcı Faktör Analizi, Geçerlik, Güvenilirlik, Eğitim Psikolojisi

Yazarlar

Hasan Özcan, Ece Koca

Amaç

STEM’e Yönelik Tutum Ölçeği’nin temel amacı, bireylerin STEM alanlarına (Fen, Teknoloji, Mühendislik ve Matematik) karşı geliştirdikleri olumlu veya olumsuz tutum düzeylerini belirlenmektir. Bu tutumlar, öğrencilerin kariyer seçimlerini, derslere olan ilgilerini ve genel akademik başarılarını önemli ölçüde etkilemektedir.

Ölçeğin Türkçeye uyarlanmasındaki spesifik amaç ise, Türkiye’deki eğitim araştırmacıları ve uygulayıcıları için, uluslararası standartlarda kabul görmüş bir aracı geçerli ve güvenilir bir şekilde kullanıma sunmaktır. Bu sayede, Türkiye’deki eğitim sisteminde STEM eğitimi politikalarının ve müfredatlarının etkinliği hakkında daha sağlam verilere ulaşılması hedeflenmiştir.

Yapı

Ölçek, bireyin STEM alanlarına yönelik duygusal (ilgi, heyecan), bilişsel (algılanan zorluk, önem) ve davranışsal eğilimlerini kapsayan çok boyutlu bir yapıyı ölçmektedir. Tutum, genellikle bu alanlara yönelik algılanan değeri, öz yeterliği ve gelecekteki kariyer planlarına etkisini içerir.

Uyarlama çalışması, orijinal ölçeğin faktör yapısını korumayı amaçlamış ve Doğrulayıcı Faktör Analizi (DFA) sonuçlarıyla bu yapının Türk kültürüne ve diline uygunluğunu kanıtlamıştır. Ölçek, genellikle öğrencilerin STEM konularına ne kadar değer verdiklerini, bu konularda kendilerini ne kadar yetkin hissettiklerini ve kariyerlerinde bu alanları ne ölçüde düşündüklerini değerlendiren alt boyutlardan oluşmaktadır.

Geçerlik

Ölçeğin yapısal geçerliği, Doğrulayıcı Faktör Analizi (DFA) kullanılarak incelenmiştir. Elde edilen uyum indeksleri, ölçeğin mükemmel bir modele sahip olduğunu açıkça göstermektedir.

• RMSEA (Root Mean Square Error of Approximation) değeri 0.05’e eşit bulunmuştur, ki bu değer literatürde mükemmel uyum için belirlenen kriterlere (Brown, 2006) tam olarak uymaktadır.
• NNFI (Non-Normed Fit Index), CFI (Comparative Fit Index) ve IFI (Incremental Fit Index) değerlerinin 0.96’ya eşit olması, modelin veri ile uyumunun yüksek olduğunu belirtmektedir. Ayrıca RFI (Relative Fit Index) ve NFI (Normed Fit Index) değerleri de 0.95 olarak rapor edilmiştir (Byrne, 1998; Hu ve Bentler, 1999).
• SRMR (Standardized Root Mean Square Residual) değeri de 0.05 olarak hesaplanmıştır, bu da modelin mükemmel uyumunu destekleyen bir diğer önemli bulgudur (Brown, 2006).

Uyarlanan ölçeğin uyum indekslerinin (CFI: 0.944, RMSEA: 0.046 ve SRMR: 0.052) orijinal ölçeğin rapor edilen değerleriyle büyük benzerlik taşıması, Türkçeye çeviri ve adaptasyon sürecinin başarılı olduğunu ve orijinal psikometrik özelliklerin korunduğunu kanıtlamaktadır.

Güvenilirlik

Ölçeğin iç tutarlılık güvenilirliği, Cronbach Alpha katsayısı ile değerlendirilmiştir. Bu katsayılar, tüm alt faktörler ve ölçeğin tamamı için ayrı ayrı hesaplanmıştır.

Yapılan analizler sonucunda, tüm faktörler için ve ölçeğin genelinde elde edilen Cronbach Alpha iç tutarlılık katsayılarının 0.70 ve üzerinde olduğu tespit edilmiştir. Bu bulgu, psikometrik standartlara göre (genellikle kabul edilebilir minimum değer 0.70’tir) ölçeğin yüksek düzeyde bir iç tutarlılığa sahip olduğunu ve güvenilir bir ölçüm aracı olarak kullanılabileceğini göstermektedir.

Faktör Analizi

STEM’e Yönelik Tutum Ölçeği’nin faktör yapısının doğrulanması için Doğrulayıcı Faktör Analizi (DFA) kullanılmıştır. DFA, ölçek maddelerinin kuramsal olarak belirlenen faktörlere ne kadar iyi yüklendiğini test eder.

Uyarlama çalışmasında, DFA sonuçları, orijinal ölçeğin çok boyutlu yapısının Türkçe versiyonunda da geçerli olduğunu doğrulamıştır. Yukarıda belirtilen mükemmel uyum indeksleri (RMSEA, CFI, NNFI, vb.) bu faktör yapısının güçlü ve teorik beklentilerle tutarlı olduğunu desteklemektedir. Bu, ölçeğin farklı kültürlerde bile aynı temel psikolojik yapıyı ölçtüğü anlamına gelir.

Ölçme Aracı

Test Tipi: Uyarlama

Format: Likert Tipi Derecelendirme

Mevcut Diller: Türkçe (Uyarlanan Versiyon)

Popülasyon Grubu: Eğitim Alan Öğrenciler

Yaş Grubu: Çalışmanın yapıldığı örneklem detaylarına bağlı olarak genellikle ortaokul veya lise öğrencileri (Detaylı bilgi için kaynak referansa bakılmalıdır).

Popülasyon Detayları: Özcan ve Koca (2018) çalışması, ölçeğin Türkçeye uyarlanması için uygun bir öğrenci örneklemi üzerinde gerçekleştirilmiştir.

Test Metodolojisi: Beşli Likert Tipi Derecelendirme (5 puanlı ölçek). Yanıt seçenekleri “Kesinlikle Katılıyorum (5)” ile “Kesinlikle Katılmıyorum (1)” arasında değişmektedir.

Anahtar Kelimeler

STEM tutumu, Tutum ölçümü, Psikometri, Eğitim araştırmaları, Güvenilirlik, Geçerlik, Likert ölçeği, Hacettepe Üniversitesi

Yazarlar

Yazar ORCID Tanımlayıcısı: Mevcut Değil

Kurum E-posta Adresleri: [email protected] (Sorumlu Yazar)

Yazışma Adresi: Aksaray Üniversitesi (Sorumlu Yazarın Bağlı Olduğu Kurum)

İzinler, Ücret ve Test Yılı

İzinler: Ölçeğin kullanımı için sorumlu yazar Hasan Özcan ile iletişime geçilmesi önerilir.

Ücret: Ticari olmayan akademik araştırmalar için genellikle ücretsizdir, ancak yazarın politikası kontrol edilmelidir.

Test Yılı: Uyarlama çalışmasının yayınlandığı yıl 2018’dir.

Kaynaklar

Özcan, H., ve Koca,E.(2018). STEM’e Yönelik Tutum Ölçeğinin Türkçeye Uyarlanması: Geçerlik ve güvenirlik çalışması. Hacettepe Üniversitesi Eğitim Fakültesi Dergisi. 2-15.

Brown, T. A. (2006). Confirmatory factor analysis for applied research. Guilford Press.

Byrne, B. M. (1998). Structural equation modeling with LISREL, PRELIS, and SIMPLIS: Basic concepts, applications, and programming. Lawrence Erlbaum Associates.

Hu, L., & Bentler, P. M. (1999). Cutoff criteria for fit indexes in covariance structure analysis: Conventional criteria versus new alternatives. Structural Equation Modeling: A Multidisciplinary Journal, 6(1), 1–55.

Ek Bilgi: Ölçeğin orijinal PDF belgesi şuradan indirilebilir: steme-yonelik-tutum-olcegi-toad.pdf

STEM’e Yönelik Tutum Ölçeği Maddeleri

ÖNEMLİ: Aşağıdaki ölçek maddeleri orijinal dilinde korunmuştur ve hiçbir şekilde değiştirilmemelidir.

• Matematik en kötü dersim olmuştur.
• Fen ile uğraşırken kendimden eminim.
• Ürünler tasarlamak gelecek iş yaşantım için önemlidir.
• İşler planlandığı gibi gitmediğinde değişiklikler yapabileceğimden eminim.